SN74BCT8373ANTE4參數(shù)：IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
類別：集成電路 (IC)-邏輯 - 專用邏輯標(biāo)準(zhǔn)包裝：15系列：74BCT包裝：管件邏輯類型：掃描測(cè)試設(shè)備，帶 D 型鎖存器電源電壓：4.5 V ~ 5.5 V位數(shù)：8工作溫度：0°C ~ 70°C安裝類型：通孔封裝：24-DIP（0.300"，7.62mm）供應(yīng)商器件封裝：24-PDIP
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