8V18646AIPMREP參數(shù)：IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP
類別：集成電路 (IC)-接口 - 專用標(biāo)準(zhǔn)包裝：1,000系列：SCOPE™, Widebus™包裝：帶卷 (TR)應(yīng)用：電路板測試接口：4 導(dǎo)線測試訪問端口（TAP）電壓 - 電源：2.7 V ~ 3.6 V封裝：64-LQFP供應(yīng)商器件封裝：64-LQFP（10x10）安裝類型：表面貼裝
