8V182512IDGGREP參數(shù)：IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
類別：集成電路 (IC)-邏輯 - 專用邏輯標(biāo)準(zhǔn)包裝：2,000系列：-包裝：帶卷 (TR)邏輯類型：ABT 掃描測試設(shè)備，帶通用總線收發(fā)器電源電壓：2.7 V ~ 3.6 V位數(shù)：18工作溫度：-40°C ~ 85°C安裝類型：表面貼裝封裝：64-TFSOP （0.240"，6.10mm 寬）供應(yīng)商器件封裝：64-TSSOP
